儿童智力测试仪专家今天要给大家分析一下低能儿的可能原因。
儿童智力测试仪发现智力的构成是一个相当复杂的问题,,它的产生、发展、扩充、完善都高不开大脑这个物质基础,而大脑的生长发育又是受着先天遗传因素和后天教育(环境刺激)因素的影响。首先要保证大脑完整无损,才有可能在后天教育因素的作用下,获得较高的智力。
儿童智力测试仪了解到所谓低能儿,是指智力不或智力落后的儿重。研究认为,低能儿一般可分为两大类:一是弱智型,因制约智力的诸遗传基因偶然作出不正当的组合而引起。另一类是病理型,这种智力障碍属于疾病的一种局部性症状,基原因有遗传性与非遺传性的外因性两个方面。遗传性原因有染色体异常和代谢障碍等,非遗传性的外因性原因更是多种多样。
儿童智力测试仪研究发现许多遗传病与智力发育有着密切的关系,对此我们必须予以足够的重视,如先天愚型综合征,就是先天性大脑发育不全而导致智力低下的最常见的遗传病。该病所致的智力低下患儿约占全部智力低下患儿的10~20%,患者具有特殊的面容:眼裂较小、两眼距离较宽、通鼻梁、流诞水、常伸出舌头呆笑。患者还常伴有其他先天畸形,其中以先天性心脏病较为多见,机体对疾病的抵抗力也很弱,易感染疾病而早期死亡。该病患者病变程度轻重不一,轻者可存活到成人期,但智力低下,男性患者均无生育能力,女性思者虽能生育,但能遗传给后代。
儿童智力测试仪提醒您,国康生物的儿童智力测试仪可以根据儿童的测试结果科学的分析儿童智力发展水平。